Модели до 4,5; 8 и 20 ГГц, 2 или 4 портовые блоки измерения S параметров, дополнительно могут оснащаться втулками смещения. Опции анализа со смещением частоты и анализа во временной области.
Отличия новой серии ENA-C от серии ENA-L и ENA:
Расширение частотного диапазона до 9кГц
Встроенные втулки смещения (опция)
Доп. порт для DC измерений, розетка для питания пробников, выход сигнала триггера
Улучшение параметров
Динамический диапазон, зашумлённость трассы, скорость
Диапазоны частот: 10 МГц до 13,5; 26,5; 43,5; 50 и 67 ГГц
Скорость измерений от 3,6 до 23 мкс на точку
Высокая выходная мощность источника: +13 дБм на 1 ГГц, +11 дБм на 67 ГГц
2- или 4-портовые модели с двумя встроенными источниками
32001 точка на канал
Расширенные функциональные возможности за счет использования разных измерительных блоков и возможности измерения параметров смесителей и преобразователей частоты
32 независимых измерительных канала
Дополнительно поставляемые модули электронной калибровки
85092C ВЧ-модуль ECal, 300 кГц . 9 ГГц, 3,5 мм разъемы (возможен выбор N типа или 7-16) 85093C ВЧ-модуль ECal, 300 кГц . 9 ГГц, тип N, 50 Ом 85096C ВЧ-модуль ECal, 300 кГц . 9 ГГц, тип N, 75 Ом 85099C ВЧ-модуль ECal, 300 кГц . 3 ГГц, тип F N4431B ВЧ-модуль ECal от 300 кГц до 13,5 ГГц, 4 порта, соединители типа N или 3,5 мм N4432А ВЧ-модуль ECal от 300 кГц до 18 ГГц, 4 порта, соединители типа N N4433А ВЧ-модуль ECal от 300 кГц до 20 ГГц, 4 порта, соединители 3,5 мм N4691B ВЧ-модуль ECal от 300 кГц до 26,5 ГГц, 2 порта, соединители 3,5 мм N4693А СВЧ-модуль ECal от 10 МГц до 50 ГГц, 2 порта, соединители 2,4 мм N4694А СВЧ-модуль ECal от 10 МГц до 67 ГГц, 2 порта, соединители 1,85 мм
ПО измерения параметров материалов 85071E позволяет проводить измерения комплексной диэлектрической проницаемости (ε, epsilon) и комплексной магнитной проницаемости (µ, mu) для широкого спектра твердых материалов. ПО выполняет весь необходимый контроль анализатора цепей, расчеты и функции представления данных.
Осуществляет контроль анализатора цепей для измерения комплексных S-параметров образца материала,
Устраняет влияние на измерение S-параметров со стороны оснастки для фиксации образца.
Пересчитывает комплексные параметры материала в ε и µ
Отображает результаты измерений в виде графиков и таблиц с различными форматами (r’, er’’, tan, r’, r’’, tan m и Cole-Cole)
Вся информация на сайте носит справочный характер и не является публичной офертой, определяемой положениями Статьи 437 Гражданского кодекса Российской Федерации.
Технические параметры (спецификация) и комплект поставки товара могут быть изменены производителем без предварительного уведомления.
Приведённые цены являются ориентировочными и на момент заказа требуют уточнения.
Наша компания принимает оплату только по безналичному расчёту.
Продукция, предлагаемая нашей компанией, не имеет бытового или иного назначения, не связанного с осуществлением предпринимательской деятельности.
Аском контрольно измерительное оборудование, Россия, г. Москва, +7 (495) 220-99-08, e-mail: info@as-com.ru
